报告题目：X射线干涉成像技术

报告时间：2024年6月23日下午四点

报告对象：本科生、研究生及感兴趣教师

报告地点：F315

专家简介：

赵帅，国家同步辐射实验室特聘副研究员。2018年于合肥工业大学测控技术与仪器专业获学士学位，2023年于中国科学技术大学仪器科学与技术专业获博士学位。期间2022-2023年在瑞士保罗谢尔研究所与苏黎世联邦理工学院博士联合培养一年，主要研究方向X射线光学。主持和参与科技部国家重点研发计划、瑞士国家自然科学基金、中国国家自然科学基金重点项目、同步辐射联合基金等多项项目。在Optics Express、Applied Physics Letters等国际著名学术期刊上发表多篇学术论文。担任Optica、Optics Express、Optics Letters等期刊审稿人。

报告摘要：介绍X射线干涉成像用于面形检测、3维重构技术；X射线聚焦技术。报告介绍使用X 射线光栅干涉仪测量 X 射线波前形状和光学元件的面型误差，并使用 LTP 交叉检查斜率误差以确认该方法的准确性，差值小于 200 nrad；搭建了实验室级消色差X射线显微镜，实现百nm级分辨率。