启航网讯  2024年6月23日下午四点在F315, 国家同步辐射实验室特聘副研究员赵帅作了题为“X射线干涉成像技术”的学术报告。报告会由敖波副院长主持，测光学院部分教师、学生认真聆听了报告。

赵帅副研究员从同步辐射光源的需求出发，介绍了X射线干涉成像技术。报告介绍了X 射线波前检测技术，使用X 射线光栅干涉仪测量X射线波前形状的面型误差并使用 LTP 交叉检查斜率误差以确认该方法的准确性，差值小于 200 nrad。其次介绍了高分辨率X 射线显微镜，可以用来探索纳米级物体内部 3D 结构。对于管式X射线显微镜，关键的光学元件是聚光镜和物镜，使用高精度X射线毛细管作为聚光镜，使用消色差X射线透镜代替菲涅尔区板作为物镜。最后介绍了搭建的实验室级消色差X射线显微镜，实现百nm级分辨率，报告还介绍了其他新型X射线成像技术。

报告结束后，赵帅副研究员就师生提出的问题进行了细心的解答，此次报告在座师生收益非浅。